|
|
|
| |
|
 |
|
|
| [VIS PATENT] |
| |
| |
|
|
| Ansøgningsnr. og dato | 21717582.7 (espacenet) (Federated) (European Patent Register), 20210401 | | Patent/reg.nr. og dato | DK/EP 4127734, 20250618 | | Tilgængelighedsdato | 20230208 | | Prioritetsnr. og dato | NL 2025275, 20200403 | | EP publ. nr. og dato |
EP 4127734 20230208 | | Løbedag | | | Ansøger/indehaver | Nearfield Instruments B.V., Vareseweg 5
3047 AT Rotterdam, NL | | Ansøgers ref. nr. | | | Opfinder | ZABBAL, Paul, c/o Vareseweg 5
3047 AT Rotterdam, NL | | Fuldmægtig | | | Interessent på tilknyttet sag | | | IPC-Klasse | G01N 29/06 (2006.01) , G01Q 30/04 (2010.01) , G01Q 60/32 (2010.01) | | Titel/benævnelse | METHOD OF DETERMINING DIMENSIONS OF FEATURES OF A SUBSURFACE TOPOGRAPHY, SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM. | | Internationalt ansøgningsnr. | NL2021050216 | | Internationalt publ. nr. | WO2021201684 | | Relateret sag (certifikat) | | | Status | Enhedspatent registreret | | Pædiatrisk forlængelse | - | | Udløbsdato for pædiatrisk forlængelse | - |
|
|
|
|
|
