| Ansøgningsnr. og dato | 19185162.5 (espacenet) (Federated) (European Patent Register), 20120413 | | Patent/reg.nr. og dato | DK/EP 3575796, 20201111 | | Tilgængelighedsdato | 20191204 | | Prioritetsnr. og dato | US 201161476145 P, 20110415 | | EP publ. nr. og dato |
EP 3575796 20191204 | | Løbedag | | | Ansøger/indehaver | DexCom, Inc., 6340 Sequence Drive
San Diego, CA 92121, US | | Ansøgers ref. nr. | P75169DK01 | | Opfinder | RONG, Daiting, 4766 Caminito Impersado
San Diego, CA 92130, US,
Kamath, Apurv, 3524 Chasewood Drive
San Diego, CA 92111, US,
BOHM, Sebastian, 5075 Fallenwood Lane
San Diego, CA 92121, US,
Simpson, Peter C., 227 N. Vulcan Avenue
Encinitas, CA 92024, US,
Estes, Michael J., 14537 Crestline Drive
San Diego, CA 92064, US | | Fuldmægtig | Plougmann Vingtoft A/S, Strandvejen 70, 2900 Hellerup, DK | | Interessent på tilknyttet sag | | | IPC-Klasse | A61B 5/157 (2006.01) , G01N 33/66 (2006.01) | | Titel/benævnelse | AVANCERET ANALYTSENSORKALIBRERING OG FEJLDETEKTION | | Internationalt ansøgningsnr. | | | Internationalt publ. nr. | | | Relateret sag (certifikat) | | | Status | Ophævet | | Pædiatrisk forlængelse | - | | Udløbsdato for pædiatrisk forlængelse | - |
|
